- [電子器件常見問題]陶瓷電容失效模式之三原材料失效[ 2021-03-16 16:24 ]
- 電極間失效及結(jié)合線破裂主要由陶瓷的高空隙,或電介質(zhì)層與相對電極間存在的空隙引起,使電極間是電介質(zhì)層裂開,成為潛伏性的漏電危機。
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- [電子器件常見問題]熱擊失效多層陶瓷電容失效模式之一[ 2021-03-16 15:24 ]
- 熱擊失效的原理是:在制造多層陶瓷電容時,使用各種兼容材料會導致內(nèi)部出現(xiàn)張力的不同熱膨脹系數(shù)及導熱率。當溫度轉(zhuǎn)變率過大時就容易出現(xiàn)因熱擊而破裂的現(xiàn)象,這種破裂往往從結(jié)構(gòu)最弱及機械結(jié)構(gòu)最集中時發(fā)生,一般是在接近外露端接和中央陶瓷端接的界面處、產(chǎn)生最大機械張力的地方。
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- [電子器件常見問題]陶瓷電容失效的七大原因[ 2020-12-23 15:20 ]
- 空氣中濕度過高時,水膜凝聚在電容器外殼表面,可使電容器的表面絕緣電阻下降。此外,對于半密封結(jié)構(gòu)電容器來說,水分還可滲透到電容器介質(zhì)內(nèi)部,使電容器介質(zhì)的絕緣電阻絕緣能力下降。因此,高溫、高濕環(huán)境對電容器參數(shù)惡化的影響極為顯著。
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- [電子產(chǎn)品動態(tài)]陶瓷電容失效3種模式[ 2020-12-23 15:07 ]
- 陶瓷電容器耐壓失效模式第1種模式﹕電極邊緣瓷片貫穿(擊穿點在銀面邊緣位置),第2種模式﹕瓷片延邊導通或瓷片邊緣破裂破損(擊穿點在素子側(cè)面),第3種模式﹕電極內(nèi)瓷片貫通(擊穿點在質(zhì)子(銀面)中心及其周邊位置)
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- [新晨陽動態(tài)]陶瓷電容的失效分析[ 2019-05-29 17:09 ]
- 電容的應(yīng)用已經(jīng)越來越廣了,但我們都知道,陶瓷電容是會損壞的,是會失效的,導致陶瓷電容失效的原因有很多。 內(nèi)電極之間是陶瓷介質(zhì),陶瓷介質(zhì)中分布著一-些大小不等的微小孔洞,在高溫下電極非常容易擴散遷移,擴散到陶瓷介質(zhì)中。 在潮濕和雜質(zhì)離子的作用下,這些孔洞成為電極遷移的通道。 從而導致電容器的絕緣電阻下降,漏電流增大,出現(xiàn)電容器擊穿,燒毀失效。 表明失效電容的電極中碳和氧的含
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- [新聞資訊]陶瓷電容失效因素分析[ 2018-01-19 17:05 ]
- 多層陶瓷電容器本身的內(nèi)在可靠性十分優(yōu)良,可以長時間穩(wěn)定使用。 但如果器件本身存在缺陷或在組裝過程中引入缺陷,則會對其可靠性產(chǎn)生嚴重影響。 內(nèi)在因素主要有以下幾種:燒結(jié)裂紋:燒結(jié)裂紋常起源于一端電極,沿垂直方向擴展。主要原因與燒結(jié)過程中的冷卻速度有關(guān),裂紋和危害與空洞相仿。 分層:多層陶瓷電容器的燒結(jié)為多層材料堆疊共燒。燒結(jié)溫度可以高達1000℃以上。 層間結(jié)合力不強,燒結(jié)
- http://miss-brasil.com/Article/tcdrsxysfx_1.html
- [選型資料]陶瓷電容失效原因[ 2016-09-26 16:07 ]
- 陶瓷電容失效原因分析 陶瓷介質(zhì)內(nèi)空洞 導致空洞產(chǎn)生的主要因素為陶瓷粉料內(nèi)的有機或無機污染,燒結(jié)過程控制不當?shù)取? 空洞的產(chǎn)生極易導致漏電,而漏電又導致器件內(nèi)部局部發(fā)熱,進一步降低陶瓷介質(zhì)的絕緣性能從而導致漏電增加。 該過程循環(huán)發(fā)生,不斷惡化,嚴重時導致多層陶瓷電容器開裂、爆炸,甚至燃燒等嚴重后果。 分層 多層陶
- http://miss-brasil.com/Article/tcdrsxyy_1.html
- [選型資料]新晨陽為您分析陶瓷電容失效的原因[ 2016-08-23 14:07 ]
- 多層陶瓷電容器本身的內(nèi)在可靠性十分優(yōu)良,可以長時間穩(wěn)定使用。但如果器件本身存在缺陷或在組裝過程中引入缺陷,則會對其可靠性產(chǎn)生嚴重影響。下面新晨陽為您分析陶瓷電容失效的原因。
- http://miss-brasil.com/Article/xcywnfxtcdrsxdyy_1.html
- [電子產(chǎn)品動態(tài)]貼片陶瓷電容失效的內(nèi)在因素主要有哪些?[ 2016-03-25 17:15 ]
- 燒結(jié)裂紋,燒結(jié)裂紋常起源于一端電極,沿垂直方向擴展。主要原因與燒結(jié)過程中的冷卻速度有關(guān),裂紋和危害與空洞相仿。
- http://miss-brasil.com/Article/tptcdrsxdnzyszyynx_1.html
- [選型資料]陶瓷電容失效原因分析[ 2015-09-10 11:56 ]
- 1.陶瓷介質(zhì)內(nèi)空洞 導致空洞產(chǎn)生的主要因素為陶瓷粉料內(nèi)的有機或無機污染,燒結(jié)過程控制不當?shù)???斩吹漠a(chǎn)生極易導致漏電,而漏電又導致器件內(nèi)部局部發(fā)熱,進一步降低陶瓷介質(zhì)的絕緣性能從而導致漏電增加。該過程循環(huán)發(fā)生,不斷惡化,嚴重時導致多層陶瓷電容器開裂、爆炸,甚至燃燒等嚴重后果。
- http://miss-brasil.com/Article/tcdrsxyyfx_1.html
- [選型資料]新晨陽陶瓷電容供應(yīng)商,造成陶瓷電容失效的主要因素[ 2015-07-09 16:48 ]
- 陶瓷電容失效原因分析: 多層陶瓷電容器本身的內(nèi)在可靠性十分優(yōu)良,可以長時間穩(wěn)定使用。但如果器件本身存在缺陷或在組裝過程中引入缺陷,則會對其可靠性產(chǎn)生嚴重影響。 內(nèi)在因素主要有以下幾種: 1.陶瓷介質(zhì)內(nèi)空洞 (Voids) 導致空洞產(chǎn)生的主要因素為陶瓷粉料內(nèi)的有機或無機污染,燒結(jié)過程控制不當?shù)?。空洞的產(chǎn)生極易導致漏電,而漏電又導致器件內(nèi)部局部發(fā)熱,進一步降低陶瓷介質(zhì)的絕緣性能從而導致漏電增加。該過程循
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