檢驗(yàn)，生產(chǎn)，設(shè)計(jì)過(guò)程中，常常都會(huì)碰到貼片電容容值偏低的問(wèn)題。是否就是因?yàn)楫a(chǎn)品品質(zhì)出現(xiàn)問(wèn)題？這類(lèi)現(xiàn)象出現(xiàn)的原因及解決方法是什么？本文整理了貼片電容容值偏低的原因以及相應(yīng)的應(yīng)對(duì)方案，從測(cè)試環(huán)境、測(cè)試條件、儀器差異、材料老化等幾方面作出分析,以便廣大技術(shù)人員對(duì)貼片電容產(chǎn)品容值偏低現(xiàn)象有更清晰的的認(rèn)識(shí)，能夠更好的選型。
1、量測(cè)儀器差異對(duì)量測(cè)結(jié)果的影響
大容量的電容（通常指1UF以上）測(cè)量時(shí)更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電容兩端的實(shí)際電壓不能達(dá)到測(cè)試條件所需求的電壓，這是因?yàn)榧釉陔娙輧啥说臏y(cè)試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實(shí)際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了使測(cè)量結(jié)果誤差降到最低,我們建議將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實(shí)際加在電容兩端所測(cè)的電壓盡量調(diào)整,使實(shí)際于待測(cè)電容上輸?shù)某鲭妷阂恢?
2、測(cè)試條件對(duì)量測(cè)結(jié)果的影響
首先考慮測(cè)量條件的問(wèn)題，對(duì)于不同容值的貼片電容會(huì)采用不同的測(cè)試條件來(lái)測(cè)量容值，主要在測(cè)試電壓的設(shè)定和測(cè)試頻率的設(shè)定上有區(qū)別，下表所示為不同容值的量測(cè)條件:
電容 AC 電壓 頻率
容量>10μF 1.0± 0.2Vrms 120Hz
1000pF<容量≦10μF 1.0± 0.2Vrms 1kHz
容量≦ 1000pF 1.0± 0.2Vrms 1MHz
3、測(cè)量環(huán)境條件對(duì)量測(cè)結(jié)果的影響
貼片陶瓷電容（X7R/X5R/Y5V）系列產(chǎn)品被稱(chēng)為非溫度補(bǔ)償性元件,即在不同的工作溫度環(huán)境下,電容量會(huì)有比較顯著的變化，在不同的工作溫度下，電容標(biāo)稱(chēng)容值與實(shí)際容值之間的差異。例如，在40℃時(shí)的測(cè)試容量將比25℃時(shí)的測(cè)試容量低了接近20%。由此可以看出，在外部環(huán)境溫度比較高的情況下,電容容值的測(cè)試值就會(huì)顯的偏低。我們通常建議放置在20℃的環(huán)境下一段時(shí)間,使材料處于穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境下再進(jìn)行容值測(cè)試。
