電子設(shè)備往往都是由若干個電子元器件構(gòu)成，而在設(shè)備的電路設(shè)計中，通過電子元器件的可靠串聯(lián)模型，才能夠?qū)崿F(xiàn)電子設(shè)備和系統(tǒng)功能的正常運行。對于大部分電子元器件的生產(chǎn)來說，其使用可靠性是基礎(chǔ)和核心，任何一個小的電子元器件的功能喪失，都會導致整個系統(tǒng)功能的喪失。因此，為了保證系統(tǒng)功能的有效發(fā)揮，必須要加強設(shè)計人員對電子元器件使用可靠性的認識，并且進行科學、合理的選擇與使用，才能夠保證電子元器件使用可靠性的不斷提升，以此促進整機的穩(wěn)定運行。

　　1.1 缺乏科學的設(shè)計

　　通過對以往電子元器件產(chǎn)品的系統(tǒng)分析可以看出，電子元器件的失效，除了其本身的質(zhì)量問題，有很大一部分原因是由于電子元器件的設(shè)計不合理所導致的。比如某雷達產(chǎn)品，其在使用的過程中存在著晶振振蕩不穩(wěn)定的現(xiàn)象，通常會認為是由于集成電路所引起的，在更換集成電路之后現(xiàn)象仍然存在，通過進一步的分析發(fā)現(xiàn)，是電路設(shè)計不合理所引起的，因此對電力設(shè)計進行了更改，故障便徹底消除。

　　1.2 人為因素的干擾

　　根據(jù)相關(guān)的數(shù)據(jù)統(tǒng)計，在導致電子元器件失效的各種原因中，人為因素占據(jù)著很大的比例，在產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用的過程中，庫存、搬運、安裝調(diào)試、試驗等環(huán)節(jié)都可能會由于人的因素而導致電子元器件的失效。比如在電子元器件的裝配過程中，將單元板進行組成之后，對整個系統(tǒng)進行運行調(diào)整，這時整機功能正常，但是將電子元器件與電路印制板進行焊接并且裝機之后，設(shè)備卻無法正常運轉(zhuǎn)，通過專家分析，是由于焊接過程中，沒有使電烙鐵達到理想的接地狀態(tài)，不滿足電路焊接標準要求，而導致設(shè)備整機無法運行。

　　1.3 因他電應力

　　近年來，由于其他電應力而引起的電子元器件失效比例逐年的提升，其中較為典型的因素有接地不良、反沖電動勢、二次擊穿、靜電等等。如很多單位的供電系統(tǒng)都是接“0”保護，即“零”線與“地”線接在一起，這是符合供電系統(tǒng)的使用標準的。然而，對于微電子器件、CMOS器件，在其電路設(shè)計、調(diào)試和生產(chǎn)過程中，則必須采用接“地”保護，即“零”線與“地”線必須要嚴格分開。由于這些問題沒有受到充分的重視，而導致了電子元器件的失效。

　　2 提高電子元器件使用可靠性的措施分析

　　1）電子元器件的正確選擇與使用。由于不同的生產(chǎn)廠家在電子元器件的命名方法上存在著一定的差異，通常在元器件上所使用的字母標記也有著不同的含義，其反映著不同的型號和規(guī)格，同時也反映了元器件使用的環(huán)境和質(zhì)量等級等信息。

　　因此，在進行元器件的選擇時，必須要對其字母含義進行詳細的了解以及確定，因為有的供應商利用采購人員不清楚元器件上字母的含義，而以次充好，或者是以民用品充當軍用品以較高的價格出售。同時，應當對電子元器件的質(zhì)量等級和命名標準等內(nèi)容有正確的認識，選擇具有品質(zhì)認定的標志，具有成熟生產(chǎn)經(jīng)驗的廠家所生產(chǎn)的產(chǎn)品。另外，對于元器件的使用環(huán)境和使用條件等參數(shù)要求也要作為其選擇的依據(jù)，這樣才能夠選擇合理的型號與規(guī)格。

　　2） 對于元器件的工作負荷要進行科學的控制。實踐證明，經(jīng)常處于滿1 電子元器件的失效原因分析負荷工作狀態(tài)的元器件，其使用壽命也大大的降低，因此為了保證電子元器件的使用功能正常發(fā)揮，對于元器件的施工要適當?shù)倪M行降額和降溫。同時，通過冗余設(shè)計、裕度設(shè)計等方法來改善元器件的使用可靠性，降低其失效率，以此來提高整機的運行可靠性。

　　3）在電路的選擇上，應當在保證不影響電路功能的基礎(chǔ)上，將傳統(tǒng)的分立器件用集成電路來代替。對于特殊的電路，或者是電子元器件成本較高的電路，應當根據(jù)使用的需要而做好相應的防護措施，功率較大的元器件，則要添加就有散熱器功能的部件，保證其正常使用。

　　4） 在安裝工藝方法的選擇方面， 應當確保其科學和有效，比如印制板的機械配合孔、結(jié)構(gòu)尺寸的合理性等等，這些都是影響元器件使用可靠性的因素，避免由于結(jié)構(gòu)設(shè)計不合理和安裝工藝不科學而造成元器件內(nèi)應力的存在，這會大大降低元器件的使用效率。

　　5）元器件的檢測與篩選。檢測與篩選是元器件使用過程中必不可少的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，影響元器件使用可靠性的因素有很多，即使是設(shè)計合理、安裝工藝科學等因素都保證的基礎(chǔ)上，仍然會由于元器件自身材料的缺陷、輔助材料的質(zhì)量以及設(shè)備故障等因素而導致元器件的使用存在缺陷，而這些缺陷通過檢測與篩選是能夠有效的清除。在電路的測試功能中，包括直流參數(shù)測試和交流參數(shù)測試以及功能測試等，喪失基本邏輯功能的元器件可以通過功能測試來完成，而工藝生產(chǎn)中存在的缺陷則可以通過直流參數(shù)測試來檢測，交流參數(shù)測試一般可以用來對期間的頻率特性和開關(guān)特性進行檢測。

　　6）加強對電子元器件使用可靠性的研究工作，不斷的完善元器件使用規(guī)則和制度，并且持續(xù)提升設(shè)計人員的設(shè)計水平。比如可根據(jù)單位實際情況來編寫《CMOS電路使用規(guī)則》、《集成電路運放電路使用規(guī)則》等文件，從而使設(shè)計、使用人員有章可循，將大大減少人為因素造成的元器件失效。

7）加強對元器件產(chǎn)品質(zhì)量的監(jiān)督與管理，杜絕使用不合格的元器件產(chǎn)品。相關(guān)的工作部門要對元器件的質(zhì)量做好監(jiān)督與管理，并且及時的反饋，定期將元器件的使用情況形成報告并且上交給質(zhì)量管理部門。在對整機設(shè)備進行維護時，對其故障分析應當深入到元器件的等級，而不僅僅是電路板，這樣才能夠根據(jù)不同批次的元器件產(chǎn)品的故障和失效率有一個詳細的記錄和分析，以此來判斷該批量元器件的可靠性，為生產(chǎn)和使用提供更具有針對性的修改建議。