壓敏電阻的老化失效問題,這一問題主要指的是電阻體的低阻線性逐步加劇,此時漏電流將會惡性增加且集中注入薄弱點。
導致薄弱點材料融化,形成一千歐左右的短路孔后,電源繼續(xù)推動一個較大的電流灌入短路點,形成高熱而起火。
研究結果表明,若壓敏電阻存在著制造缺陷,易發(fā)生早期失效,強度不大的電沖擊的多次作用也會加速老化過程。
使老化失效提早出現(xiàn),而壓敏電阻器出現(xiàn)暫態(tài)過電壓破壞則是一個短時間內造成器件損壞的情況。
所謂的暫態(tài)過電壓破壞,指的是短時間內出現(xiàn)較強的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔,導致更大的電流而高熱起火,整個過程在較短時間內發(fā)生。