壓敏電阻的老化失效問題，這一問題主要指的是電阻體的低阻線性逐步加劇，此時漏電流將會惡性增加且集中注入薄弱點。
導致薄弱點材料融化，形成一千歐左右的短路孔后，電源繼續(xù)推動一個較大的電流灌入短路點，形成高熱而起火。
研究結果表明，若壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強度不大的電沖擊的多次作用也會加速老化過程。
使老化失效提早出現(xiàn)，而壓敏電阻器出現(xiàn)暫態(tài)過電壓破壞則是一個短時間內造成器件損壞的情況。
所謂的暫態(tài)過電壓破壞，指的是短時間內出現(xiàn)較強的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔，導致更大的電流而高熱起火，整個過程在較短時間內發(fā)生。
