對(duì)解讀高頻低阻電解電容使用可靠性檢測(cè)的分析有以下獨(dú)特見解。 鋁電解電容器是電子元器件中重要的元器件之一， 是電子工程技術(shù)與許多先進(jìn)設(shè)備中不可缺少或不可取代的電子元器件，因此，電解電容器在使用之前都會(huì)進(jìn)行使用可靠性的檢測(cè)，以確保電解電容器在使用過程中使用壽命更長(zhǎng)，與其它電子元器件一起使用時(shí)更可靠、更安定。
鋁電解電容器使用可靠性檢測(cè)一般也叫電解電容老化測(cè)試，高頻低阻電解電容壽命測(cè)試等等，有很多方面的檢測(cè)，以下簡(jiǎn)單分析幾個(gè)檢測(cè)方案。
第一：電解電容器的高溫動(dòng)態(tài)老化測(cè)試，在此測(cè)試過程中查看電解電容各項(xiàng)參數(shù)的變化與衰減和流失情況，這可就可以把不好的電解電容剔除掉。
第二:電解電容器的使用壽命測(cè)試，電解電容器的壽命測(cè)試是在電解電容老化測(cè)試的基礎(chǔ)上，對(duì)電解電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測(cè)試，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命，但是電解電容器壽命的得出是在電解電容器長(zhǎng)時(shí)間的老化之后得出的。同時(shí)每提升電解電容器的環(huán)境溫度10度，電解電容器的壽命就會(huì)下降一半。如果想要電解電容器的壽命長(zhǎng)，就要保證溫度。
第三：耐壓實(shí)驗(yàn)，包括額定工作電壓24小時(shí)工作測(cè)試；也包括擊穿耐壓，即破壞性測(cè)試，電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。 第四：串聯(lián)電阻測(cè)試，絕緣電阻測(cè)試。
